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法庭科學 射擊殘留物檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

標 準 號： GA/T 1522-2018
替代情況：
發(fā)布單位： 中華人民共和國公安部
起草單位： 公安部物證鑒定中心、北京市公安局刑偵總隊
發(fā)布日期： 2018-09-26
實施日期： 2018-09-26
點 擊 數(shù)：
更新日期： 2020年01月22日
內(nèi)容摘要

本標準規(guī)定了法庭科學領域掃描電子顯微鏡/X射線能譜檢驗射擊殘留物的方法。
本標準適用于法庭科學領域射擊殘留物顆粒形態(tài)及元素成分的檢驗。

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