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掃描探針顯微鏡漂移速率測量方法

標 準 號: GB/T 29190-2012
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會
起草單位: 中國科學技術(shù)大學、上海市計量測試技術(shù)研究院
發(fā)布日期: 2012-12-31
實施日期: 2013-06-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2017年01月03日
內(nèi)容摘要

本標準規(guī)定了SPM 漂移速率的術(shù)語和定義、縮略語、測量步驟、性能參數(shù)規(guī)格,及基于SPM 掃描圖像的漂移速率測量基本方法。
本標準適用于0.01nm/s到10nm/s的漂移速率測量。本標準中的漂移測量不適用于圖像校正。

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