GB/T25758的本部分規(guī)定了采用清晰邊緣的射線照相底片,來校驗管電壓最高至500kV 的工業(yè)X 射線系統(tǒng)的大于0.5mm 焦點(diǎn)尺寸的方法。 
      X 射線圖像的像質(zhì)和分辨力很大程度上取決于焦點(diǎn)的特性。焦點(diǎn)成像質(zhì)量基于目標(biāo)平面的二維強(qiáng)度分布。 
      邊緣方法對于在現(xiàn)場條件下校驗焦點(diǎn)是特別有效,以發(fā)現(xiàn)焦點(diǎn)的變化。本方法不能用于焦點(diǎn)尺寸的絕對測量。焦點(diǎn)尺寸的絕對測量方法見附錄A。