本文件描述了電子元器件在實(shí)際貯存條件下隨時(shí)間推移的退化機(jī)理和退化方式，以及評估一般退化機(jī)理的試驗(yàn)方法。
通常本文件與IEC 62435-1一起使用，用于預(yù)計(jì)貯存時(shí)間超過12個(gè)月的長期貯存器件。
特定類型電子元器件的退化機(jī)理在IEC 62435-5～I(xiàn)EC 62435-9中加以規(guī)定。