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盤封管電性能測(cè)試方法 總則

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)： SJ/T 10864-1996
替代情況： 替代 GB 7273.1-87
發(fā)布單位： 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局
起草單位： 779廠和電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所
發(fā)布日期： 1996-11-20
實(shí)施日期： 1997-01-01
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2022年07月06日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)適用于空間電荷控制盤封管電參數(shù)的測(cè)試。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測(cè)試設(shè)備的要求和測(cè)試規(guī)則。


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