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SJ/T 11394-2009《半導(dǎo)體發(fā)光二極管測試方法》應(yīng)用指南

標(biāo) 準(zhǔn) 號: SJ/T 11577-2016
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國工業(yè)和信息化部
起草單位: 電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究院等
發(fā)布日期: 2016-01-15
實(shí)施日期: 2016-06-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2022年06月21日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了SJ/T 11394-2009 《半導(dǎo)體發(fā)光二極管測試方法》標(biāo)準(zhǔn)在實(shí)際測量和操作過程中應(yīng)注意的細(xì)節(jié)。本標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容能夠?yàn)長ED光、色、電等參數(shù)的測量提供有效指導(dǎo),可以提高測量的準(zhǔn)確性、重復(fù)性。本標(biāo)準(zhǔn)適用于可見光LED器件產(chǎn)品,其他LED器件產(chǎn)品可參照執(zhí)行。

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