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晶體管低頻噪聲參數(shù)測試方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號： SJ/T 11765-2020
替代情況：
發(fā)布單位： 中華人民共和國工業(yè)和信息化部
起草單位： 工業(yè)和信息化部電子第五研究所
發(fā)布日期： 2020-12-09
實(shí)施日期： 2021-04-01
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2022年01月07日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了晶體管1Hz～300kHz頻率范圍內(nèi)的噪聲參數(shù)測試方法及要求，適用于雙極型晶體管與場效應(yīng)晶體管，其他晶體管產(chǎn)品可參照執(zhí)行。

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