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半導體器件 集成電路 第4部分:接口集成電路 第二篇:線性模擬/數(shù)字轉換器(ADC)空白詳細規(guī)范

標 準 號: GB/T 18500.2-2001
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局
起草單位: 信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標準化研究所
發(fā)布日期: 2001-01-01
實施日期: 2002-06-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2021年12月02日
內容摘要

本標準等同采用國際電工委員會(IEC)標準IEC 748-4-2:1993《半導體器件 集成電路 第4部分:接口集成電路 第二篇:線性模擬/數(shù)字轉換器(ADC)空白詳細標準》,以促進我國該類產(chǎn)品的國際貿易、技術和經(jīng)濟交流。本標準可作為編制線性ADC詳細規(guī)范的依據(jù)。IEC電子器件質量評定體系遵循IEC的章程并在IEC授權下進行工作。該體系的目的是確定質量評定程序,以這種方式使一個參加國按有關規(guī)范要求放行的電子器件無需進一步試驗而為其所有參加國同樣接受。本空白詳細規(guī)范是半導體器件的一系列空白詳細規(guī)范之一,并且與下列IEC標準一起使用。IEC 747-10/QC 700000 半導體器件 第10部分:分立器件和集成電路總規(guī)范IEC 748-11/QC 790100 半導體器件 集成電路 第11部分:半導體集成電路(不包括混合電路)分規(guī)范

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