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半導(dǎo)體器件 集成電路 第11部分:第1篇:半導(dǎo)體集成電路 內(nèi)部目檢 (不包括混合電路)

標 準 號: GB/T 19403.1-2003
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局
起草單位: 信息產(chǎn)業(yè)部第四研究所
發(fā)布日期: 2003-11-24
實施日期: 2004-08-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2021年12月02日
內(nèi)容摘要

本部分為GB/T19403的一部分,等同采用國際電工委員會標準IEC60748-11-1:1992《半導(dǎo)體器件集成電路第11部分:第1節(jié):半導(dǎo)體集成電路內(nèi)部目檢》。

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