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電信設(shè)備內(nèi)部電磁發(fā)射診斷技術(shù)要求和測量方法(150kHz～1GHz) 第2部分：輻射發(fā)射測量 TEM小室和寬帶TEM小室方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號： YD/T 1690.2-2007
替代情況：
發(fā)布單位： 信息產(chǎn)業(yè)部
起草單位： 信息產(chǎn)業(yè)部電信研究院
發(fā)布日期： 2007-09-29
實(shí)施日期： 2008-01-01
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2021年04月15日
內(nèi)容摘要

本部分規(guī)定了在電信設(shè)備內(nèi)部通過TEM小室和寬帶TEM小室方法進(jìn)行輻射發(fā)射測量的方法。本部分適用于工作頻率范圍在150kHz～1GHz的電信設(shè)備內(nèi)部的集成電路。

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