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電信設(shè)備內(nèi)部電磁發(fā)射診斷技術(shù)要求和測量方法(150kHz～1GHz)第4部分:傳導(dǎo)發(fā)射測量 1Ω/150Ω直接耦合方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號： YD/T 1690.4-2007
替代情況：
發(fā)布單位： 信息產(chǎn)業(yè)部
起草單位： 信息產(chǎn)業(yè)部電信研究院
發(fā)布日期： 2007-09-29
實(shí)施日期： 2008-01-01
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2021年04月14日
內(nèi)容摘要

本部分規(guī)定了通過1Ω阻抗的探頭對集成電路傳導(dǎo)電磁騷擾（EME）進(jìn)行直接射頻（RF）電流測量和使用150Ω耦合網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行射頻電壓測量的方法。本部分適用于工作頻率范圍在150kHz～1GHz的電信設(shè)備內(nèi)部的集成電路。

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