本部分規(guī)定了用微型磁場(chǎng)探頭以非接觸的電流測(cè)量方式來(lái)測(cè)量集成電路（IC）的管腳的射頻電流的方法。本方法可以在150kHz～1GHz頻率范圍內(nèi)測(cè)量由IC產(chǎn)生的射頻電流。本部分適用于單個(gè)IC的測(cè)量或者用于標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試板上的IC芯片組的描述和比較。
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