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砷化鎵晶片熱穩(wěn)定性的試驗方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號： SJ/T 11497-2015
替代情況：
發(fā)布單位： 中華人民共和國工業(yè)和信息化部
起草單位： 工業(yè)和信息化部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究院
發(fā)布日期： 2015-04-30
實施日期： 2015-10-01
點(diǎn) 擊 數(shù)： 113 5
更新日期： 2021年04月09日
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本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半絕緣砷化鎵（GaAs）熱穩(wěn)定性的試驗方法。

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