本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了OLED產(chǎn)品殘像試驗(yàn)方法和壽命測試方法。標(biāo)準(zhǔn)的范圍為OLED顯示器的屏體和模組。殘像試驗(yàn)方法充分考慮了不同應(yīng)用情況的顯示器的異同點(diǎn)，對(duì)殘像的測試圖形，以及殘像最終的表示方法都有明確和科學(xué)的規(guī)定。壽命測試方法主要針對(duì)亮度衰減進(jìn)行了相關(guān)規(guī)定，同時(shí)還通過附錄的形式采用了加速衰減的方式并可通過公式去推算顯示器的壽命。