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電子封裝用球形二氧化硅微粉球形度的檢測方法 顆粒動態(tài)光電投影法

標(biāo) 準(zhǔn) 號： GB/T 37406-2019
替代情況：
發(fā)布單位： 國家市場監(jiān)督管理總局 國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位： 江蘇聯(lián)瑞新材料股份有限公司、國家硅材料深加工產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心、漢高華威電子(連云港)有限公司
發(fā)布日期： 2019-05-10
實施日期： 2019-12-01
點 擊 數(shù)：
更新日期： 2019年07月06日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子封裝用球形二氧化硅微粉顆粒球形度、平均球形度及球形度分布的測試方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于4～300微米的球形顆粒。

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