本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了IP核的可測試性設(shè)計約束和結(jié)構(gòu)，對可測試性結(jié)構(gòu)、測試包封及測試接口進(jìn)行規(guī)定。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于對IP核進(jìn)行可測試性設(shè)計、測試集成和IP核測試。