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本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路串行外設(shè)接口測試方法。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體集成電路串行外設(shè)接口電特性及功能驗證。