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微電子封裝的數(shù)字信號傳輸特性測試方法

標 準 號： SJ/T 11704-2018
替代情況：
發(fā)布單位： 中華人民共和國工業(yè)和信息化部
起草單位： 中國電子技術標準化研究院等
發(fā)布日期： 2018-02-09
實施日期： 2018-04-01
點 擊 數(shù)：
更新日期： 2019年04月06日
內(nèi)容摘要

本標準規(guī)定了高頻數(shù)字微電子封裝中傳輸線的特性阻抗、傳輸延遲時間、負載電容、負載電感、直流串聯(lián)電阻的測試方法。
本標準適用于高頻數(shù)字微電子封裝。

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