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半導(dǎo)體紅外發(fā)射二極管測量方法 第4部分：總電容

標(biāo) 準(zhǔn) 號： SJ/T 2658.4-2015
替代情況： 替代 SJ/T 2658.4-1986
發(fā)布單位： 中華人民共和國工業(yè)和信息化部
起草單位： 電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究院等
發(fā)布日期： 2015-10-10
實(shí)施日期： 2016-04-01
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2019年01月07日
內(nèi)容摘要

規(guī)定了半導(dǎo)體紅外發(fā)射二極管總電容的測量原理圖、測量步驟以及規(guī)定條件。

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