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電磁兼容 試驗和測量技術 橫電磁波(TEM)波導中的發(fā)射和抗擾度試驗

標 準 號: GB/T 17626.20-2014
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會
起草單位: 東南大學、上海出入境檢驗檢疫局、中國電力科學研究院、上海市計量測試技術研究院
發(fā)布日期: 2014-12-22
實施日期: 2015-06-01
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更新日期: 2017年01月13日
內(nèi)容摘要

GB/T17626的本部分給出了利用各種 TEM 波導進行電子和電氣設備發(fā)射和抗擾度試驗的方法。
TEM 波導有開放式(例如,帶狀線和電磁脈沖(EMP)模擬器)和封閉式(例如,TEM 室),還可以進一步分為單端口、雙端口和多端口波導。TEM 波導的適用頻率范圍取決于具體的試驗需求和 TEM 波導的具體類型。
本部分的目的是給出:
———TEM 波導的性能,包括典型的頻率范圍和對 EUT 尺寸的限制;
———用于電磁兼容(EMC)試驗的 TEM 波導的確認方法;
———EUT(即 EUT 殼體和連接電纜)的定義;
———在 TEM 波導中進行輻射發(fā)射試驗的試驗布置、步驟和要求;
———在 TEM 波導中進行輻射抗擾度試驗的試驗布置、步驟和要求。
 

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