本部分代替ＧＢ／Ｔ５１７０．１—１９９５《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　總則》。 本部分規(guī)定了環(huán)境試驗設(shè)備檢驗所用術(shù)語和定義、檢驗條件、檢驗儀器、檢驗周期、檢驗負(fù)載、設(shè)備的外觀和安全、檢驗記錄表、檢驗結(jié)果處理等要求。本部分適用于電工電子產(chǎn)品進行環(huán)境試驗所用設(shè)備的檢驗，其他產(chǎn)品進行環(huán)境試驗所用設(shè)備的檢驗亦可參照使用。 本部分與ＧＢ／Ｔ５１７０．１—１９９５《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　總則》相比，技術(shù)
內(nèi)容主要有如下變化：
———標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則”；
———增加了前言；
———所有用詞“檢定”更改為“檢驗”；
———刪除了術(shù)語“指示點”；
———修改了“溫度波動度”的定義和計算方法；
———修改了“溫度變化速率”的定義和計算方法；
———增加了“相對濕度波動度”的定義和計算方法；
———增加了“相對濕度均勻度”的定義和計算方法；
———增加了“每５ｍｉｎ溫度平均變化速率”的定義和計算方法；
———增加了“溫度指示誤差”的定義；