本文件描述了光學(xué)和光子學(xué)長霉試驗(yàn)的環(huán)境試驗(yàn)方法。
本文件適用于光學(xué)和光子學(xué)儀器，包括來自其他領(lǐng)域的組件（如機(jī)械、化學(xué)和電子設(shè)備）的長霉試驗(yàn)。
本文件不適用于常規(guī)生產(chǎn)檢查。