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無損檢測 工業(yè)射線計算機(jī)層析成像檢測 第1部分:原理、設(shè)備和樣品

標(biāo) 準(zhǔn) 號: GB/T 41123.1-2021
替代情況:
發(fā)布單位: 國家市場監(jiān)督管理總局 國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位: 清華大學(xué)、中國兵器科學(xué)研究院寧波分院、北京固鴻科技有限公司、上海材料研究所
發(fā)布日期: 2021-12-31
實(shí)施日期: 2022-07-01
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更新日期: 2022年03月25日
內(nèi)容摘要

本文件規(guī)定了X射線計算機(jī)層析成像(CT)的一般原理、所用設(shè)備及關(guān)于樣品、材料和幾何形狀的基本注意事項。
本文件適用于工業(yè)計算機(jī)層析成像(非醫(yī)學(xué)應(yīng)用)檢測,定義了一組CT系統(tǒng)性能參數(shù),以及這些性能參數(shù)與 CT 系統(tǒng)規(guī)格的關(guān)系。
本文件適用于計算機(jī)軸向?qū)游龀上?,不適用于其他類型的層析成像,如平移層析成像和斷層合成成像。

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