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射頻連接器 第202部分:電氣試驗(yàn)方法 插入損耗

標(biāo) 準(zhǔn) 號: GB/T 11313.202-2018
替代情況:
發(fā)布單位: 國家市場監(jiān)督管理總局 國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位: 中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院、中航富士達(dá)科技股份有限公司、通鼎互聯(lián)信息股份有限公司
發(fā)布日期: 2018-09-17
實(shí)施日期: 2019-01-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2019年07月06日
內(nèi)容摘要

GB/T 11313的本部分規(guī)定了射頻連接器插入損耗的測試方法。
本部分適用于接電纜的射頻連接器、接微帶射頻連接器和射頻連接器轉(zhuǎn)接器等的測試,也適用于多路射頻同軸連接器和混裝連接器中的射頻通道的測試。

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