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通用數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)： JJG 1015-2006
替代情況：
發(fā)布單位： 國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
起草單位： 信息產(chǎn)業(yè)部工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
發(fā)布日期： 2006-12-08
實(shí)施日期： 2007-03-08
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2019年06月16日
內(nèi)容摘要

本規(guī)程適用于數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)，包括混合集成電路及存貯器測(cè)試系統(tǒng)的數(shù)字部分的首次檢定、后續(xù)檢定和使用中檢驗(yàn)。

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