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微波(雷達(dá))物位計(jì)

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): JB/T 13252-2017
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部
起草單位: 北京古大儀表有限公司等
發(fā)布日期: 2017-04-12
實(shí)施日期: 2018-01-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2019年03月27日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了工業(yè)過程測(cè)量用微波(雷達(dá))物位計(jì)的術(shù)語和定義、產(chǎn)品分類和基本參數(shù)、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則以及標(biāo)志、使用說明書、包裝及貯存等要求。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于利用各種類型天線來發(fā)射微波,并接受被測(cè)物料面反射的回波,根據(jù)發(fā)射波和回波的時(shí)間差來計(jì)算物料面位置的微波物位計(jì),包括使用調(diào)頻連續(xù)波(FMCW)或脈沖波(PULSE)等技術(shù)、頻率在微波頻段(1 GHz~300 GHz)的物位計(jì)。

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