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GB/T26332規(guī)定了在光學元器件及基片表面鍍制的光學薄膜的應(yīng)用功能分類、技術(shù)指標的標準表述形式、常規(guī)特性及試驗測量方法,但不擬用于規(guī)定鍍制方法。 本部分規(guī)定了光學薄膜的使用條件分類,并確定了為證明光學薄膜滿足技術(shù)要求所需要進行的環(huán)境試驗。試驗的術(shù)語和范圍已在ISO9022-1中給出。 本部分不適用于眼科光學(眼鏡)的光學薄膜。