GB/T26332規(guī)定了在光學(xué)元器件及基片表面鍍制的光學(xué)薄膜的應(yīng)用功能分類、技術(shù)指標(biāo)的標(biāo)準(zhǔn)表述形式、常規(guī)特性及試驗(yàn)測(cè)量方法,但不擬用于規(guī)定鍍制方法。
本部 分 規(guī) 定 了 在 GB/T 26332.3 中 提 到 的 光 學(xué) 薄 膜 環(huán) 境 適 應(yīng) 性 試 驗(yàn) 方 法,這 些 方 法 在
GB/T12085—2010標(biāo)準(zhǔn)中沒有描述。這些方法通常與 GB/T26332.3—2015附錄 A 中的測(cè)試方法組
成試驗(yàn)序列共同使用。
本部分不適用于眼科光學(xué)(眼鏡)的光學(xué)薄膜。