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工業(yè)硅化學(xué)分析方法 第10部分：汞含量的測定 原子熒光光譜法

標(biāo) 準(zhǔn) 號： GB/T 14849.10-2016
替代情況：
發(fā)布單位： 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位： 昆明冶金研究院、北京有色金屬研究總院、北京礦冶研究總院
發(fā)布日期： 2016-08-29
實(shí)施日期： 2017-07-01
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2017年07月31日
內(nèi)容摘要

GB/T 14849的本部分規(guī)定了工業(yè)硅中汞含量的測定方法。?本部分適用于工業(yè)硅中汞含量的測定，測定范圍：0.000 010%~0.001 0%。

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