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表面化學分析 俄歇電子能譜 荷電控制與校正方法報告的規(guī)范要求

標 準 號: GB/T 32998-2016
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
起草單位: 中國科學技術(shù)大學物理學院
發(fā)布日期: 2016-10-13
實施日期: 2017-09-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2017年07月30日
內(nèi)容摘要

本標準規(guī)定了在電子激發(fā)絕緣樣品的俄歇電子能譜測量中,描述荷電控制方法所需的最少信息,該信息也一并報告在分析結(jié)果中。參見附錄A提供的現(xiàn)有的AES分析前或分析期間荷電控制的有用方法。表A.1對各種方法和途徑進行了總結(jié),并依方法的簡單性排列。表A.1中的一些方法對大多數(shù)儀器是可用的,一部分則需要特殊的硬件,還有部分可能涉及樣品的重裝或變動。

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