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硅拋光片表面顆粒測試方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號: GB/T 19921-2018
替代情況: 替代 GB/T 19921-2005
發(fā)布單位: 國家市場監(jiān)督管理總局 國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位: 有研半導(dǎo)體材料有限公司、上海合晶硅材料有限公司、浙江金瑞泓科技股份有限公司等
發(fā)布日期: 2018-12-28
實(shí)施日期: 2019-07-01
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更新日期: 2019年04月24日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了應(yīng)用掃描表面檢查系統(tǒng)對拋光片、外延片等鏡面晶片表面的局部光散射體進(jìn)行測試,對局部光散射體與延伸光散射體、散射光與反射光進(jìn)行區(qū)分、識別和測試的方法。

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