本標準適用于非本征單晶半導(dǎo)體材料樣品或相同導(dǎo)電類型重摻襯底上沉積已知電阻率的同質(zhì)外延層中的少數(shù)載流子擴散長度的測量。要求樣品或外延層厚度大于4倍的擴散長度。 本標準修改采用SEMI MF 391-1106《非本征半導(dǎo)體中少數(shù)載流子擴散長度的穩(wěn)態(tài)表面光電壓測試方法》。
本標準與SEMI MF 391-1106相比主要有如下變化：
———標準格式按GB/T 1.1要求編排；
———將SEMI MF 391-1106中的部分注轉(zhuǎn)換為正文；
———將SEMI MF 391-1106中部分內(nèi)容進行了編排。