本部分為ＧＢ／Ｔ１５９７２的第５１部分。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了評估光纖在給定環(huán)境中干熱性能的測量方法和試驗(yàn)程序。適用于確定A1類多模光纖和B類單模光纖在實(shí)際應(yīng)用、貯存和運(yùn)輸過程中可能發(fā)生的高溫環(huán)境條件下的適應(yīng)性能。本部分與ＩＥＣ６０７９３-１-５１：２００１主要差異如下：
———適用范圍由Ａ１ａ至Ａ１ｄ類光纖改為Ａ１類光纖，Ｂ１至Ｂ４類光纖改為Ｂ類光纖；
———最小彎曲直徑１５０ｍｍ 改為繞圈直徑應(yīng)大于１５０ｍｍ；
———在進(jìn)行基準(zhǔn)測量前應(yīng)使試驗(yàn)箱和試樣穩(wěn)定在標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下改為穩(wěn)定在ＧＢ／Ｔ１５９７２．１０—２００８規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下；
———在試驗(yàn)前后要對光纖涂覆層平均剝離力進(jìn)行測量改為對光纖涂覆層剝離力進(jìn)行測量；
———糾正了“建議在試驗(yàn)開始時，３５℃ 下的濕度應(yīng)不低于５０％ ＲＨ”的錯誤，改為“應(yīng)不高于５０％ＲＨ”。