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表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 確定本底的程序

標 準 號： GB/Z 32490-2016
替代情況：
發(fā)布單位： 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會
起草單位： 清華大學(xué)、中山大學(xué)
發(fā)布日期： 2016-02-24
實施日期： 2017-01-01
點 擊 數(shù)：
更新日期： 2017年02月26日
內(nèi)容摘要

本指導(dǎo)性技術(shù)文件給出了確定X射線光電子能譜中本底的指南。本指導(dǎo)性技術(shù)文件適用于固體表面X射線激發(fā)的光電子和俄歇電子能譜的本底確定。

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