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鍺酸鉍(BGO)晶體 痕量元素化學(xué)分析 輝光放電質(zhì)譜法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)： GB/T 42518-2023
替代情況：
發(fā)布單位： 國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位： 中國(guó)科學(xué)院上海硅酸鹽研究所、寧波新材料測(cè)試評(píng)價(jià)中心有限公司
發(fā)布日期： 2023-05-23
實(shí)施日期： 2023-09-01
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2023年08月20日
內(nèi)容摘要

本文件描述了采用輝光放電質(zhì)譜法(GD-MS)測(cè)量鍺酸鉍(BGO)晶體中雜質(zhì)元素的方法。


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