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納米技術(shù) 多相體系中納米顆粒粒徑測(cè)量 透射電鏡圖像法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): GB/T 42208-2022
替代情況:
發(fā)布單位: 國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位: 深圳市德方納米科技股份有限公司、中國(guó)計(jì)量大學(xué)、北京粉體技術(shù)協(xié)會(huì)
發(fā)布日期: 2022-12-30
實(shí)施日期: 2023-07-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2023年05月19日
內(nèi)容摘要

本文件描述了利用透射電子顯微鏡圖像處理和分析技術(shù)進(jìn)行納米顆粒在多相體系中分散的粒徑測(cè)量方法。本文件適用于固相多相體系中納米顆粒的粒徑測(cè)量和粒徑分析。本文件也適用于在樣品制備滿足透射電子顯微鏡觀察要求時(shí)的膠體和生物組織中納米顆粒粒徑測(cè)量。

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