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靜電復(fù)印硒鼓 膜層附著力試驗方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號： JB/T 5533-2007
替代情況： 替代 JB/T 5533-1991
發(fā)布單位： 中華人民共和國國家發(fā)展和改革委員會
起草單位： 天津復(fù)印技術(shù)研究所
發(fā)布日期： 2007-10-08
實施日期： 2008-03-01
點 擊 數(shù)：
更新日期： 2022年10月22日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了靜電復(fù)印硒鼓膜層附著力的試驗方法，其中包括：原理、設(shè)備、試樣、試驗步驟和試驗報告。本標(biāo)準(zhǔn)適用于Se,Se-Te及Ae2Se3等類型硒鼓。

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