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微束分析 用于波譜和能譜分析的粉末試樣制備方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號: GB/T 41074-2021
替代情況:
發(fā)布單位: 國家市場監(jiān)督管理總局 國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位: 中國地質(zhì)科學(xué)院礦產(chǎn)資源研究所、核工業(yè)北京地質(zhì)研究院、中國科學(xué)院地質(zhì)與地球物理研究所
發(fā)布日期: 2021-12-31
實施日期: 2022-07-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2022年05月02日
內(nèi)容摘要

本文件規(guī)定了使用安裝在電子探針(EPMA)或掃描電鏡(SEM)上的能譜儀(EDS)或波譜儀(WDS)分析粉末中的顆粒時的試樣制備方法。根據(jù)分析目的和顆粒尺寸,對粉末顆粒試樣的制備方法進行了分類。
本文件適用于粒徑范圍在100 nm~100 μm的無機物顆粒。
本文件不適用于一些特殊應(yīng)用,如法醫(yī)分析或痕量分析。

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