本部分描述了無(wú)源射頻和微波元器件中由兩路或兩路以上傳輸信號(hào)產(chǎn)生的無(wú)源互調(diào)電平的一般要求和測(cè)量方法。本部分中的試驗(yàn)程序規(guī)定了在傳輸兩路信號(hào)時(shí)所產(chǎn)生的不希望的互調(diào)信號(hào)的一般要求和測(cè)量方法。
各部分闡述了無(wú)源互調(diào)（PIM）的測(cè)量方法，但不涉及與該性能有關(guān)的產(chǎn)品長(zhǎng)期可靠性。
本部分與GB/T 21021的其他部分配套使用。